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序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
1 | CN101162178A | 插拔测试装置及其测试方法 | 2008.04.16 | 本发明公开了一种插拔测试装置及其测试方法,该装置包括输入设备、输出设备、CPU、驱动机构和压力传感器 |
2 | CN101706294A | 一种自动判断传感器的校准时间的方法 | 2010.05.12 | 本发明公开了一种实现测试设备中传感器的校准时间确定的方法。本方法根据测试设备的校准要求设计,不仅可以 |
3 | CN101162248A | 按键及触摸屏测试装置 | 2008.04.16 | 一种按键及触摸屏测试装置,用于电子产品的按键及触摸屏测试,包括:测试架,其包括用于按压的气动组件、用 |
4 | CN101706294B | 一种自动判断传感器的校准时间的方法 | 2011.04.06 | 本发明公开了一种实现测试设备中传感器的校准时间确定的方法。本方法根据测试设备的校准要求设计,不仅可以 |
5 | CN101373164A | 扭曲测试装置 | 2009.02.25 | 一种扭曲测试装置,用于电子产品的结构抗扭曲可靠性测试,包括:下压机构,控制系统,测试台。本发明还揭示 |
6 | CN101188633A | 翻盖测试装置及其测试方法 | 2008.05.28 | 本发明公开了一种翻盖测试装置及其测试方法,该装置包括输入设备、输出设备、CPU、驱动机构、测试机械手 |
7 | CN101187599A | 压力测试装置 | 2008.05.28 | 一种压力测试装置,用于电子产品的结构抗压力可靠性测试,包括:下压机构,控制系统,测试台。本发明还揭示 |
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